結晶方位差精度を定量化するための方法、システム、プログラム、及びプログラム記録媒体
結晶方位差測定における測定精度指標考案
誤差の大きさを定量的に表すことで、測定の品質を定義することができ、異なる測定機関、測定者のデータを比較する際の参考になる。そして、電子後方散乱回折測定の標準化が可能となる。
| 文献番号 | 特許第5473072号 |
|---|---|
| 資料請求番号 | 20010006 |
| 用途 | 結晶方位差測定にて、誤差の定量化、言い換えると測定精度を定量化する方法、システム、コンピュータプログラム、及び、コンピュータプログラム記録媒体を提供する。 |
| 技術内容 | １つの結晶方位分布データから測定点間距離の異なる方位差を算出することで、測定点間距離と方位差の関係を直線で近似し、測定点距離が零のときの方位差の大きさ（Bn）を外挿で求め、大きさＢｎを測定精度の指標として用いる。測定精度を定量的に示すことにより、測定条件（測定精度）の異なる状態で得られた測定結果を比較する際の参考にできる。また、測定精度を一致させるように測定条件を調整することも可能となる。また、測定点の距離に依存しない方位差を代表する指標を用いることで、測定条件（測定点間距離）の異なる結晶方位データが比較できるデータ処理方法。 |
| 権利者 | 株式会社原子力安全システム研究所 |
| 権利者関連リンク | 結晶方位解析方法 結晶方位の方位差分布の測定方法及び塑性ひずみの局所分布の測定方法 |
(敬称略)