結晶方位解析方法
電子後方散乱回折による結晶方位差測定誤差の影響を低減するデータ処理方法の開発
今回の発明は、測定済みのデータに対する処理方法であることから、測定条件を変えずに誤差を低減できる。また、既に取得済みのデータに対しても適用できるなどの利点を有する。
| 文献番号 | 特許第5180924号 |
|---|---|
| 資料請求番号 | 20010005 |
| 用途 | 結晶方位の解析方法において、方位測定誤差を低減できるデータ処理方法を提供する。 |
| 技術内容 | 電子後方散乱回析により所定距離間隔の格子状測定点を測定した結晶方位データをコンピュータによってデータ処理する結晶方位の解析方法であって、結晶粒界を求めるステップと、平均化された結晶方位データを求めるステップと、同一結晶粒内の方位差を演算するステップと、を含むデータ処理方法。 |
| 権利者 | 株式会社原子力安全システム研究所 |
| 権利者関連リンク | 結晶方位差精度を定量化するための方法、システム、プログラム、及びプログラム記録媒体 結晶方位の方位差分布の測定方法及び塑性ひずみの局所分布の測定方法 |
(敬称略)